PLC晶體輸出如何檢測及如何判定受損
| [三菱FX系列、三菱Q系列、閎凱HG1系列 PLC] | |
| １. | 準備待測PLC或PLC晶體擴充模組、OMRON DC24V 繼電器或繼電器模組DC24V電源模組。 |
| ２. | 電路原理說明晶體輸出電路如下所示：（圖片來源: http://w3.uch.edu.tw/meplc/PLC-2/PLCCH2.htm） |
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上圖是一組NPN晶體輸出電路模型，PLC CPU(中央處理單元、控制核心)藉由控制光耦合IC，讓輸出晶體電流放大電路導通，此時外接負載的電流先流經輸出晶體的電流放大電路控制輸出晶體打開導通。輸出晶體並聯一顆ZENNER，在晶體關閉時負載儲能放電時可以吸收並抑制突波電壓造成晶體擊穿或衰減。如果晶體擊穿時可以使用三用表簡易測出程式令晶體off時是否短路，程式令晶體on時是否開路。如果是則要送修。 |
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| ３. | 晶體容量衰減如何檢測 |
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將上圖負載使用一顆DC24V繼電器替代，PLC送電後，程式令輸出晶體關閉，三用表電壓檔測量COM與輸出端子(Y)之電壓要等於DC24V電源+V和COM之電壓，如果低於DC24V電源+V和COM之電壓超過0.02V以上，表示晶體有受突波擊傷造成洩漏電流發生，建議要送修。 |
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